Трехмерные профилометры серии UP

Отправить запрос


UP-5000 UP-3000 UP-2000
Платформа



Светлое и темное поле + +
Конфокальный профилометр + +
Белосветовой интерферометр + + +
Съемка с переменным фокусом + +
Склейка 3D изображений + + +
Профилометрия спектрального отражения +

Атомно-силовой микроскоп +

Рамановский микроскоп +

Габаритные размеры XYZ столика 300 мм х 300 мм х 150 мм 150 мм х 200 мм х 150 мм
150 мм х 200 мм х 150 мм

Описание

Передовые, модульные и компактные оптические трехмерные профилометры серии UP с автоматическим измерением и анализом полученных данных. Оптические профилометры высокого разрешения объединяют множество оптических методов визуализации на одной платформе для измерения шероховатости, морфологии, текстуры, геометрии, толщины и многого другого для поверхностей любых материалов.

Оптические микроскопы 3D характеризуют трехмерную топографию поверхности. Сначала они оптически захватывают несколько изображений поверхности. Затем микроскоп сшивает изображения вместе по оси XYZ. Наконец, приборы количественно оценивают данные для расчета характеристик исследуемой поверхности.

Профилометр UP-5000 - визуализация больших образцов

Конфокальный микроскоп + Интерферометр + Спектральная толщина пленки + Темное поле + Переменный фокус + АСМ + Раман

Технология, производительность, разрешение и универсальность оптического профилометра UP-5000 создают свой собственный высокий класс приборов для визуализации. Благодаря быстрому сканированию, нескольким методам визуализации и высокому разрешению, UP-5000 предлагает лучшее решение для визуализации поверхности больших образцов.



Профилометр UP-3000 - универсальное решение

Конфокальный микроскоп + Интерферометр + Темное поле + Переменный фокус + Изображение в светлом поле



Профилометр UP-2000 - доступный и надежный

Полностью автоматический оптический микроскоп. Высокоскоростные камеры с нанометровым разрешением.

Гибкий вертикальный диапазон, высокая точность на роликовых ступенях и жесткая конструкция делают микроскопы UP-2000 идеальным выбором для измерения шероховатости, морфологии, толщины пленки и анализа топографии любого образца.