Оптическая система контроля качества пленки

Описание

Система контроля качества пленки на наличие включений LWIS 1000 оборудована камерой с матрицей CMOS типа NECTA N8K3G с сенсором, имеющем 8192 пикселей по длине массива (размер пикселя 3.5 мкм x 3.5 мкм).

Камера подключается к промышленному компьютеру, оборудованному15” ЖК сенсорной панелью управления с
оригинальным программным обеспечением. Камера располагается над исследуемой движущейся пленкой, а
светодиодный источник подсветки, обладающей малым тепловыделением, с другой стороны пленки. Источником света служит компактный светодиодный источник белового света с диффузором для равномерного и стабильного освещения.

Система обнаружения дефектов в пленке серии LWIS 1000 может быть установлена на любых линиях проката или выдува пленки производства Labtech Engineering.